Welltronics Technology Limited

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Hitachi Oxford CMI165 Surface Cooper Épaisseur d'épaisseur
Hitachi Oxford CMI165 Surface Cooper Épaisseur d'épaisseur
Hitachi Oxford CMI165 Surface Cooper Épaisseur d'épaisseur
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Hitachi Oxford CMI165 Surface Cooper Épaisseur d'épaisseur

Hitachi Oxford CMI165 Surface Cooper Épaisseur d'épaisseur

$3600≥1Set/Sets

Type de paiement:Paypal,T/T
Incoterm:EXW
Quantité de commande minimum:1 Set/Sets
transport:Air,Express
Hafen:S,h,e
Attributs du produit

ModèleCMI165

marqueHitachi

Lieu D'origineJapon

PuissanceÉlectronique

Emballage & livraison
Unités de vente : Set/Sets
Type de colis : 1 set / pack
Exemple d’image :

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Description du produit

Utilisation de CMI165

Il est utilisé pour inspecter la feuille de coopérative entrante avant le forage, la coupe, le placage et les autres procédés de PCB.
L'Oxford Instrument CMI165 est une jauge d'épaisseur de papier d'aluminium en cuivre robuste, robuste et portable avec compensation de température. Cet instrument de mesure de poche polyvalent est équipé d'une couverture de protection pour une portabilité, une durabilité et une conception de fiabilité faciles à utiliser dans des environnements difficiles. La compensation de température automatique permet la détection en ligne et fournit la mesure de la température pendant le cuivre de placage.

CMI 165 Cooper épaisseur d'épaisseur Fonctionnalité:

1. La largeur de la ligne après la gravure peut être mesurée, et la plage de test est plus fine (la plage de largeur de ligne peut être mesurée de 0,2 mm (8 millions));
2, équipé de pointes de sonde SRP-T1, avec une fonction de compensation de température, peut tester l'épaisseur de la feuille de cuivre à haute température / basse température, et cette sonde a une fonction d'éclairage, aide le positionnement précis de la détection linéaire en feuille de cuivre;
3, batterie, ordinateur de poche, facile à mesurer sur place;
4, tests non destructifs;
5, atteignez une mesure de haute précision, jusqu'à 5%;
6, arrêt automatique du ralenti (1 minute);
7, l'unité d'affichage peut être la conversion d'interface MILS, UM ou OZ et anglaise;
8, la sonde SRP-T1 peut être remplacée par le client, une fois le remplacement et l'étalonnage peuvent être utilisés;
9, la fonction de statistiques de données, y compris l'enregistrement des données, la valeur moyenne, l'écart type et la fonction de rappel de limite supérieure et inférieure

Données techniques pour CMI165

Thickness range of chemical Cu:

0.25-12.7)um,(0.01-0.5)mils

Thickness range of electroplating Cu

2.0-254)um,(0.1-10)mils

About store The instrument can store 9690 test results (test date and time can be set by oneself)
Testing accuracy     ±5%
Brand Hitachi(Original Oxford)
Configuration CMI165 tester+SRP-T1 probe tip+1/2 oz surface Cu calibration standard
   


*** L'épaisseur du cuivre est mesurée par une sonde à quatre broches en utilisant le principe de la microrésistance, conformément à la norme d'essai EN14571

CMI165

 

CMI95M   

CMI165

CMI511(CMI500)

CMI563

CMI760(CMI700)

Technique

Microresistance 

microresistance

Eddy curreny

microresistance

microresistance

Cooper Foil

×

Cooper Clad Laminate(CCL)

×

Cooper-Surface

×

×

Cooper-Fineline

×

×

Cooper Thru-hole

×

×

×

optional

Temperature Compensation

×

×

√ (ETP Probe)

Replacement Probe Tip

×

×

√ (SRP-4 Probe)

Unit Selection

oz or um

mil or um

mil or um

mil or um

mil or um

 

 

 

 

 

 

Thickness Range

8 indicator lights

1/8-4 oz

5-140 um

Electroless Cu

0.01-0.5 mil

0.25-12.7 um

Electroplated Cu

0.1-10 mil

2-254 um

0.08-4.0 mil

2-102 um

Electroless Cu

0.01-0.5 mil

0.25-12.7 um

Electroplated Cu

0.1-6 mil

3-152 um

Surface Cu

0.01-10 mil

0.25-254 um

Thru-hole Cu

0.05-4 mil

1-102um

Oxford Cmi165Cmi165 1

welltronics
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